粉體和顆粒的關(guān)系
2023-08-21
粉體和顆粒的關(guān)系是：粉體是固體顆粒的集合體，具有一般固體的基本性能，如固體的力學(xué)性能、電學(xué)性能、光學(xué)性能、磁學(xué)性能等。而顆粒是粉體中的單個(gè)單元，具有自己的基本性質(zhì)，如顆粒大小、形狀、密度、流動(dòng)性等。顆粒大小是粉體重要的性質(zhì)之一，對(duì)粉體的其他性質(zhì)如流動(dòng)性、填充性、穩(wěn)定性等都有影響。粉體和顆粒在生產(chǎn)、應(yīng)用和性質(zhì)上都有很大的區(qū)別。
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粉體的基本性能特征
2023-08-21
粉體是由許多小顆粒物質(zhì)組成的集合體，可以是由許多小顆粒物質(zhì)組成的集合體，也可以是粉碎或合成制得的材料。粉體具有一些基本性能特征，包括流動(dòng)性、成形性、再分散性、引濕性、透氣性、粘結(jié)性和黏附性等。粉體廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)中，如涂料、顏料、食品、醫(yī)藥、化妝品和膠體等領(lǐng)域。
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方塊電阻的功能及應(yīng)用概述
2023-08-21
方塊電阻的功能及應(yīng)用概述 方塊電阻在半導(dǎo)體器件和材料的研究和生產(chǎn)中應(yīng)用廣泛。例如，在涂層和薄膜半導(dǎo)體材料的電阻率測(cè)量中，方塊電阻測(cè)試儀可以用于測(cè)量樣品的電導(dǎo)率和電阻率，以及材料的載流子濃度和遷移率等參數(shù)。這些參數(shù)對(duì)于評(píng)估材料的質(zhì)量和控制生產(chǎn)過(guò)程非常重要。 此外，方塊電阻測(cè)試還可以用于研究半導(dǎo)體材料中的界面反應(yīng)和載流子輸運(yùn)機(jī)制等科學(xué)問(wèn)題。在太陽(yáng)能電池領(lǐng)域，方塊電阻測(cè)試也用于分析光伏材料的性能，如硅片和薄膜太陽(yáng)能電池。
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方塊電阻測(cè)試原理
2023-08-21
方塊電阻又稱(chēng)膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測(cè)量值。這個(gè)數(shù)值可以用來(lái)計(jì)算熱紅外輻射率。方塊電阻的大小與樣品尺寸無(wú)關(guān)，其單位為Siements/sq，也可以用歐姆/sq表示。
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壓實(shí)密度測(cè)試方法
2023-08-20
壓實(shí)密度測(cè)試方法，壓實(shí)密度測(cè)試是用于測(cè)量材料在壓實(shí)或壓縮后的密度的一種實(shí)驗(yàn)方法。該測(cè)試方法對(duì)于評(píng)估材料的性能和壓縮后的效果具有重要意義，尤其在粉末冶金、陶瓷材料和電池行業(yè)等領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用。 壓實(shí)密度測(cè)試的方法有很多種，以下是幾種常見(jiàn)的壓實(shí)密度測(cè)試方法：
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顆粒強(qiáng)度測(cè)試方法
2023-08-20
顆粒強(qiáng)度測(cè)試方法，顆粒強(qiáng)度測(cè)試是用于測(cè)量顆粒材料的強(qiáng)度特性的方法。顆粒材料可以是塑料、陶瓷、玻璃、礦物等，其強(qiáng)度特性對(duì)于產(chǎn)品的性能和使用壽命都有重要影響。 顆粒強(qiáng)度測(cè)試方法有多種，其中包括間接測(cè)試方法和直接測(cè)試方法。
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高溫電阻率測(cè)試方法
2023-08-20
高溫電阻率測(cè)試方法，，高溫條件下的電阻率測(cè)試需要選擇合適的溫度范圍和測(cè)試條件，以保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。同時(shí)，測(cè)試前需要對(duì)樣品進(jìn)行預(yù)處理，如研磨、清洗等，以消除樣品表面的雜質(zhì)和缺陷對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。
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體積電阻率測(cè)試方法
2023-08-20
體積電阻率測(cè)試方法，體積電阻率 ρ 是指通過(guò)電介質(zhì)或絕緣材料中的單位體積的絕緣電阻值，它通常用于表示電介質(zhì)的電性能。單位為歐·米。 體積電阻率的測(cè)試方法主要有兩種：四電極法和兩電極法。
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表面電阻測(cè)試方法及標(biāo)準(zhǔn)
2023-08-20
表面電阻又稱(chēng)表面比電阻，是表征電介質(zhì)或絕緣材料電性能的一個(gè)重要數(shù)據(jù)，它代表每平方面積電介質(zhì)表面對(duì)正方形的相對(duì)二邊間表面泄漏電流所產(chǎn)生的電阻。對(duì)于一個(gè)均勻的電介質(zhì)，表征其表面電阻的物理量與材料固有的體積電阻率存在一定的聯(lián)系。在實(shí)際應(yīng)用中，表面電阻的測(cè)試方法主要有平行電極法、同心圓電極法和四探針?lè)ā?/h5>
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方塊電阻測(cè)試方法
2023-08-20
方塊電阻測(cè)試方法，方塊電阻又稱(chēng)膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測(cè)量值，該數(shù)值大小可直接換算為熱紅外輻射率。方塊電阻的大小與樣品尺寸無(wú)關(guān)，其單位為Siements/sq，后增加歐姆/sq表征方式，該單位直接翻譯為方塊電阻或者面電阻，用于膜層測(cè)量又稱(chēng)為膜層電阻。
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